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半导体测试板 > probe card

probe card

产物简介

探(tan)针卡在(zai)CP测(ce)试(shi)(shi)顶用于毗连测(ce)试(shi)(shi)机和Die上的(de)(de)Pad,凡(fan)是作为Loadboard的(de)(de)物理接(jie)口(kou)(kou),在(zai)某些(xie)环境下ProbeCard经(jing)由过程(cheng)插座或别的(de)(de)接(jie)口(kou)(kou)电(dian)路附加 到Loadboard上。利用:晶(jing)元切割前,透(tou)过pc能(neng)够测(ce)试(shi)(shi)晶(jing)圆(yuan)品德,防(fang)止不良(liang)产物发生封装本(ben)钱。

利用流程

关头才能